[ Pobierz całość w formacie PDF ]
Kup książkę Poleć książkę
Skorowidz 351
kana y wej ciowe, 36 ustawienia pionowe, 111, 113
Leader LBO-518, 36 AC, 117
obs uga, 109 czu o , 111
opó nienie podstawy czasu, 37 czu o wej cia pionowego, 114
pami , 36 DC, 117
próbkowanie, 36 GND, 116
wybór, 36 kompensacja sondy, 114
wy wietlanie sygna u, 36 kondensator sprz gaj cy, 118
cechy, 109 ograniczenie zakresu cz stotliwo ciowego,
cyfrowy, 37 120
aliasing, 37, 131 pozycja pionowa, 120
kana y wej ciowe, 37 pozycjonowanie w pionie kana u 1, 111
obs uga, 131 sk adowa sta a, 117
obwiednia, 38 sk adowa zmienna, 117
odczyt ekranu, 131 sposób sprz enia, 111
opó nienie podstawy czasu, 37 sprz enie wej cia, 116
pomiar wykresów, 39 t umienie niskich cz stotliwo ci, 118
próbkowanie, 37 tryb Alternate, 121
rozdzielczo , 38 tryb Chop, 121
rozmyty chaos, 38 tryb odchylania pionowego, 120
sposoby gromadzenia danych, 131 tryb X-Y, 122
Tektronix TDS-220, 37 wybór kana u, 111
wady, 37 zmienna czu o , 116
Window Zone, 131 zwi kszenie impedancji, 115
wybór, 39 ustawienia poziome, 111, 124
wy wietlacz LCD, 37 Auto, 125
zalety, 39 Normal, 125
zatrzymanie wykresu, 37 podstawa czasu, 111, 125
odchylanie, 109 pozycja pozioma, 124
odchylanie pionowe, 35 pozycjonowanie w poziomie, 111
pod czanie, 109 Pull X10, 126
pokr t a kursorów, 130 Single, 125
przebieg, 35 tryb przemiatania, 111, 125
regulowanie napi cia, 109 zmienny czas, 126
siatka, 110 ustawienia wyzwalania, 111, 122
kalibracja, 110 AC, 123
ustawienia i regulacja ekranu, 110, 112 Alt, 122
astygmatyzm (Astig), 111, 113 DC, 123
jasno (intensywno ), 110, 112 External, 123
obrót, 113 HF reject, 123
ostro , 111, 113 lampka Trigger Lock, 122
pod wietlenie skali, 113 LF reject, 123
wyszukiwanie plamki, 113 Line, 122
ustawienia opó nionej podstawy czasu, 126 poziom, 111, 124
mno nik opó nienia podstawy czasu, 126, sprz enie, 111, 123
129 TV-H, 124
opó niona podstawa czasu, 127 wstrzymanie, 124
Start after delay/Start triggered, 128 zbocze, 124
tryb wy wietlania w poziomie, 127 ród o, 111, 122
Kup książkę Poleć książkę
352 Jak naprawi sprz t elektroniczny. Poradnik dla nieelektronika
oscyloskop projektory, 319
wy wietlanie sygna u, 112 balast, 320
regulacja ekranu, 112 cyfrowy uk ad mikroluster, 319
ustawienia opó nionej podstawy czasu, 126 mo liwe uszkodzenia, 320
ustawienia pionowe, 113 op acalno naprawy, 321
ustawienia poziome, 124 otwieranie, 217
ustawienia wyzwalania, 122 polaryzatory, 320
wyzwalanie, 109 sposoby naprawy, 322
zakres obs ugiwanych cz stotliwo ci, 35 krople na obrazie, 326
zakup, 40 problemy z balastem, 324
sondy, 40 problemy z ko em barw, 325
problemy z lamp , 323
problemy z przegrzewaniem, 324
P
problemy z przetwarzaniem obrazu, 326
problemy z tunelem wiat a, 325
pasta termoprzewodz ca, 48
cie ka optyczna, 322
stosowanie, 262
sposób dzia ania, 319
p tla synchronizacji fazowej, 101
tunel wiat a, 321
p tla ujemnego sprz enia zwrotnego, 199
zagro enia, 62, 322
pojemno , 93
przebieg pi okszta tny, 97
polaryzacja, 93
przebieg prostok tny, 96, 97
cz stotliwo , 93
czas narastania, 96
herc, 93
czas opadania, 96
pr d zmienny, 93
wspó czynnik wype nienia, 97
polecenie wprowadzenia zmian
przeka niki, 170
konstrukcyjnych, Patrz ECO
DPDT, 171
potencjometry, 168
dwupo o eniowe, 171
liniowe, 169
dwutorowe, 171
logarytmiczne, 169
oznaczenia, 171
monta owe, 168
maksymalny pr d styków, 171
oznaczenia, 169
napi cie pracy, 171
powody uszkodze , 170
po o enie, 171
reostaty, 168
powody uszkodze , 172
symbole, 169
styki, 170
testowanie poza uk adem, 170
symbole, 171
zastosowania, 169
testowanie poza uk adem, 172
prawo Ohma, 92
zastosowania, 172
pr d elektryczny, 92
prze czniki, 173
amper, 92
kontakty, 173
polaryzacja, 93
oznaczenia, 174
cz stotliwo , 93
po o enie, 173
sta y, 93
powody uszkodze , 174
minus, 93
rodzaje, 173
plus, 93
styki, 173
zmienny, 93
symbole, 173
cz stotliwo , 93
testowanie poza uk adem, 174
indukcyjno , 93
tor, 173
polaryzacja, 93
zastosowania, 174
reaktancja, 93
Kup książkę Poleć książkę
Skorowidz 353
przetwornik, 230 powody uszkodze , 167
analogowo-cyfrowy, 98 rezystancja, 92
próbka, 98 po czenie równolegle, 258
przewodnictwo, 92 po czenie szeregowe, 258
przyrz dy do usuwania cyny, 43 symbol, 166
Chip Quik, 45 testowanie poza uk adem, 167
odsysacz spr ynowy, 44 w glowe kompozytowe, 165
stosowanie, 137 wymiana, 258
odsysacz z gruszk , 44, 136 w glowe warstwowe, 166
stosowanie, 136 wymiana, 258
plecionka, 44, 136 drutowy, 258
stosowanie, 136, 252, 254, 263 niskoszumowe, 258
rozlutownica, 44 w glowe kompozytowe, 258
PWM, Patrz modulacja szeroko ci impulsów zastosowania, 167
rozwi zywanie problemów elektronicznych, 28,
69, 237
R
badanie wst pne, 83
eliminowanie zmiennych, 85
radiator, 262
martwe urz dzenie, 84
reaktancja, 93
pustka na wy wietlaczu, 84
cewka, 93
s abe po czenie, 85
impedancja, 93
zaburzenia termiczne, 85
kondensator, 93
b dy pocz tkuj cych, 73
rezonatory kwarcowe i ceramiczne, 151
b dne ko o problemów, 74
oznaczenia, 152
ignorowanie anomalii, 74
powody uszkodze , 152
niepotrzebna regulacja, 73
symbole, 152
budowa blokowa, 245
testowanie poza uk adem, 153
diody Zenera, 245
zastosowania, 152
element aktywny, 245
zjawisko piezoelektryczne, 151
kondensator elektrolityczny, 245
rezystancja, 92
punkty testowe, 245
impedancja, 92
rezystor, 246
om, 92
czynniki odpowiedzialne za uszkodzenia, 75
rezystory, 165
przeci enie elektryczne, 78
drutowe, 165
przeci enie fizyczne, 80
wymiana, 258
przegrzewanie, 78
czenie, 258
rozpad elektrolitu, 81
równoleg e, 258
miertelno poporodowa, 75
szeregowe, 258
wada konstrukcyjna, 79
metalizowane, 166
zerwane po czenia, 76
metalowo-tlenkowe, 166
zimny lut, 77
oznaczenia, 166
zu ycie mechaniczne, 76
numeryczne, 167
[ Pobierz całość w formacie PDF ]